集成電路測(cè)試儀是對(duì)集成電路進(jìn)行測(cè)試的儀器設(shè)備，集成電路的分類(lèi)很多，主要大的分類(lèi)有數(shù)字集成電路和模擬集成電路等，按集成電路的分類(lèi)，集成電路測(cè)試儀也可以分為：數(shù)字集成電路測(cè)試儀和模擬集成電路測(cè)試儀。按功能分類(lèi)：可以分為集成電路功能測(cè)試儀和集成電路參數(shù)測(cè)試儀；按形式分：便攜式集成電路測(cè)試儀和臺(tái)式集成電路測(cè)試儀。功能測(cè)試：是對(duì)集成電路的功能進(jìn)行判定，看是否功能失效。參數(shù)測(cè)試：是對(duì)集成電路的各項(xiàng)參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，看測(cè)試讀取的參數(shù)是否符合ic的設(shè)計(jì)要求。

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